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材料分析测试技术—材料X射线衍射与电子显微分析（第2版）

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作　　者：周玉武高辉
出版社：哈尔滨工业大学出版社
书　　号：
版次：
出版时间：2007/8/1
印次：1
图书开本：16开
页数：

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《材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时，简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法，并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。

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