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目　录

第一章　X射线物理学基础
　§1-1X射线的产生及其性质
　§1-2X射线谱
　§1-3X射线的散射
　§1-4X射线的衰减
第二章　布拉格方程与粉末照相
　§2-1X射线在晶体中的衍射
　§2-2布拉格方程
　§2-3X射线衍射方法
　§2-4粉末照相法
第三章　衍射原理与分析
　§3-1晶体学基本知识
　§3-2衍射的基本方程式（劳埃方程式）
　§3-3简单点阵的衍射分析
　§3-4复杂点阵的衍射分折
第四章　衍射强度及衍射仪
X射线衍射强度
　§4-1多晶体衍射强度的概念
　§4-2结构因数及原子散射因数
　§4-3多重性因数
　§4-4角因数
　§4-5吸收因数
　§4-6温度因数
　§4-7衍射强度的计算
　§4-8衍射强度的测量
X射线衍射仪
　§4-9一般介绍
　§4-10X射线光学布置
　§4-11计数器
　§4-12定标器与计数率仪
　§4-13衍射线强度的计算与测量
　§4-14衍射仪法与照相法的比较
　§4-15实验参数的选择
第五章　点阵参数的精确测定
　§5-1一般考虑
　§5-2误差的来源
　§5-3用精密实验方法消除误差
　§5-4用图解法消除误差
　§5-5用最小二乘方法（柯亨法）消除误差
　§5-6其它照相法
　§5-7用标准样对比消除误差
　§5-8用衍射仪法测定点阵参数
　§5-9点阵参数精确测定的应用
第六章　物相分析
　§6-1物相定性分析的特点，荧光X射线分析简介
　§6-2定性分析的原理及方法
　§6-3定性分析中的一些问题
　§6-4定量分析基本原理
　§6-5单线条法
　§6-6内标法
　§6-7K值法及绝热法
　§6-8直接对比法
　§6-9等强线对法
第七章　宏观应力测定
　§7-1引言
　§7-2应力测定原理
　§7-3测试方法与参数
　§7-4应力测定中的其它问题
第八章　晶粒大小及微观应力的测定
　§8-1晶粒大小在10-3～10-2厘水（10～100微米）时的测定方法
　§8-2晶粒大小在10-5～10-7厘米范围内的测定方法
　§8-3微观应力（第二类内应力）引起线条真实宽化的理论
　§8-4测定晶块尺寸与微观应力的实验程序
第九章　倒易点阵与单晶体分析法
　§9-1倒易点阵基础
　§9-2晶体投影法
　§9-3劳埃法
　§9-4周转晶体法
第十章　织构测定
　§10-1引言
　§10-2用照相法测定金属丝织构
　§10-3多晶体极图
　§10-4用照相法测定金属板织构
　§10-5用衍射仪法测定金属板织构
　§10-6反极图
结语
实验指导书
　实验一　X射线晶体分析仪与粉末照相
　实验二　立方晶系单相物质粉末相的指标化（计算法）
　实验三　利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析
　实验四　用直接对比法测定淬火钢中残余奥氏体含量
　实验五　淬火钢的宏观应力测定
　实验六　用劳埃法测定单晶体的取向
附录
　附录1　物理常数
　附录2　元素的特征发射谱线及吸收限波长，埃
　附录3　质量吸收系数μ1/ρ及密度ρ
　附录4　滤波片选用表
　附录5　立方晶系的HKL和sin2θi/sin2θ1值
　附录6　粉末试样经验冲淡数据
　附录7　原子散射因数f
　附录8　原子散射因数在吸收限近旁的减小值△f
　附录9　各种点阵的结构因数F2HKL
　附录10　粉末法的多重性因数Phkl
　附录11　角因数1+cos22θ/sin2θcosθ
　附录12　圆柱粉末试样的吸收因数μ1R
　附录13　德拜函数φ(x)/x+1/之值
　附录14　德拜－瓦洛温度因数？=e-M
　附录15　某些物质的特征温度Θ
　附录16　cos2θ的数值
　附录17　1/2(cos2θ/sinθ+cos2/θ)的数值
　附录18　sin2θ的数值
　附录19　Kα双重线分离度(θα2-θα1)
　附录20　立方系晶面间夹角
　附录21　元素的物理性质

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